JESD22-A102-B是一項(xiàng)關(guān)于電子元器件在高溫高濕環(huán)境下的無(wú)偏置高壓蒸煮試驗(yàn)方法。以下是對(duì)JESD22-A102-B的具體解釋?zhuān)?/p>

1. 標(biāo)準(zhǔn)背景

• JEDEC組織：JESD22標(biāo)準(zhǔn)系列由JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council，電子元件工業(yè)聯(lián)合會(huì)）制定，該組織是一個(gè)全球性的半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定機(jī)構(gòu)。

2. 標(biāo)準(zhǔn)目的

• 評(píng)估耐濕性：JESD22-A102-B旨在評(píng)估非氣密性封裝的固態(tài)元件在高溫高濕環(huán)境下的抗?jié)裥阅?span id="txdl1pz5" class="custom-footnote" data-index="4" style="box-sizing: border-box; display: inline-block; width: 0.5625rem; height: 0.6875rem; font-size: 0.75rem; text-align: center; color: rgb(255, 255, 255); cursor: pointer; font-weight: 600; margin: 0px 0.0625rem; background: url("https://openres.xfyun.cn/xfyundoc/2024-04-21/9a6ae90a-8c57-4672-b21a-dba98d4f5917/1713685044472/111.svg") center 0px / 100% no-repeat;">。

• 識(shí)別失效機(jī)制：通過(guò)加速濕氣滲透到封裝內(nèi)部，使弱點(diǎn)暴露，如分層、金屬腐蝕等，從而識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制。

3. 測(cè)試條件

• 溫度和濕度：樣品需放置在高溫（通常為121°C）和高濕（相對(duì)濕度接近100%）的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。

• 壓力條件：測(cè)試在高壓條件下進(jìn)行，以加速濕氣滲透過(guò)程。

4. 測(cè)試流程

• 準(zhǔn)備階段：確保測(cè)試樣品符合測(cè)試要求，并準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備和環(huán)境。

• 測(cè)試階段：將樣品置于規(guī)定的高溫高濕環(huán)境中，持續(xù)一定時(shí)間（如96小時(shí)），期間保持溫度和濕度的穩(wěn)定。

• 恢復(fù)階段：測(cè)試結(jié)束后，樣品需在特定條件下恢復(fù)至室溫，并進(jìn)行電性能測(cè)試以評(píng)估其性能變化。

5. 注意事項(xiàng)

• 適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)不適用于基于封裝的層壓板或膠帶，如FR4材料、聚酰亞胺膠帶等。

• 污染控制：測(cè)試過(guò)程中需嚴(yán)格控制污染，避免離子污染對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

總的來(lái)說(shuō)，JESD22-A102-B標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于提高電子元器件的可靠性具有重要意義。通過(guò)遵循這一標(biāo)準(zhǔn)，制造商可以更好地了解產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，從而改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造工藝，提高產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。