在電子、汽車(chē)、航空航天、通信、家電等工業(yè)領(lǐng)域,產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性是衡量其質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)。為了驗(yàn)證產(chǎn)品在極端溫度和濕度條件下的性能和耐久性,國(guó)際和國(guó)內(nèi)制定了一系列環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),其中 GB/T 2423 系列標(biāo)準(zhǔn)廣泛應(yīng)用于高低溫循環(huán)測(cè)試和濕熱老化測(cè)試中。
本文將圍繞 GB/T 2423 標(biāo)準(zhǔn)中的高低溫循環(huán)測(cè)試和濕熱老化測(cè)試進(jìn)行詳細(xì)解讀,幫助讀者了解其原理、方法、應(yīng)用場(chǎng)景以及測(cè)試注意事項(xiàng)。
一、什么是 GB/T 2423?
GB/T 2423 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法的核心標(biāo)準(zhǔn)之一,對(duì)應(yīng)于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2。該系列標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了多種環(huán)境應(yīng)力測(cè)試方法,包括:
溫度變化(高低溫循環(huán))
濕熱試驗(yàn)
振動(dòng)
沖擊
鹽霧腐蝕
本文主要介紹其中的兩個(gè)關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目:高低溫循環(huán)測(cè)試 和 濕熱老化測(cè)試。
二、高低溫循環(huán)測(cè)試(Temperature Cycling Test)
1. 測(cè)試目的
高低溫循環(huán)測(cè)試旨在模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的劇烈溫度變化環(huán)境,評(píng)估其對(duì)熱應(yīng)力、冷應(yīng)力及其交替作用的抵抗能力,從而發(fā)現(xiàn)潛在的材料缺陷、結(jié)構(gòu)失效或焊接疲勞等問(wèn)題。
2. 測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1 —— 低溫試驗(yàn)方法(Test A)
GB/T 2423.2 —— 高溫試驗(yàn)方法(Test B)
GB/T 2423.22 —— 溫度變化試驗(yàn)方法(Test Na/Nb)
3. 常見(jiàn)測(cè)試條件
常見(jiàn)的高低溫循環(huán)測(cè)試條件如下:
項(xiàng)目 | 參數(shù) |
---|---|
高溫段 | +70℃、+85℃ 或 +125℃ |
低溫段 | -40℃、-55℃ 或 -65℃ |
循環(huán)次數(shù) | 10次、30次、100次等 |
每個(gè)溫區(qū)保持時(shí)間 | 1小時(shí)、2小時(shí)、3小時(shí)等 |
轉(zhuǎn)換速率 | 1℃/min、3℃/min、15℃/min |
4. 測(cè)試流程示例
以一個(gè)典型的三段式高低溫循環(huán)為例:
高溫保持:樣品置于高溫箱中,保持一定時(shí)間;
快速降溫:通過(guò)機(jī)械制冷系統(tǒng)迅速降溫至低溫設(shè)定值;
低溫保持:樣品在低溫環(huán)境中保持一段時(shí)間;
升溫回到初始狀態(tài):完成一個(gè)完整循環(huán);
重復(fù)多個(gè)循環(huán)。
5. 應(yīng)用場(chǎng)景
電子元器件(如IC芯片、電容、連接器)的可靠性驗(yàn)證
汽車(chē)零部件(如ECU、傳感器、燈具)的環(huán)境適應(yīng)性評(píng)估
家電產(chǎn)品(如空調(diào)、冰箱、微波爐)的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性測(cè)試
三、濕熱老化測(cè)試(Damp Heat Test)
1. 測(cè)試目的
濕熱老化測(cè)試用于評(píng)估產(chǎn)品在高濕度、恒定高溫條件下長(zhǎng)期使用時(shí)的性能變化,尤其是對(duì)絕緣材料、金屬部件的防潮、防腐蝕能力的影響。
2. 測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.3 —— 恒定濕熱試驗(yàn)方法(Test Ca)
GB/T 2423.4 —— 交變濕熱試驗(yàn)方法(Test Db)
3. 常見(jiàn)測(cè)試條件
(1)恒定濕熱(Test Ca)
溫度:+40℃
濕度:95% RH
時(shí)間:48h、96h、240h、1000h等
(2)交變濕熱(Test Db)
白天:+40℃ / 95% RH
夜間:+25℃ / 75% RH
模擬晝夜溫差與濕度變化,更貼近真實(shí)環(huán)境
4. 測(cè)試流程
以恒定濕熱為例:
將樣品放入恒溫恒濕試驗(yàn)箱;
設(shè)定溫度為+40℃,濕度為95% RH;
連續(xù)保持規(guī)定時(shí)間(如96小時(shí));
取出后進(jìn)行外觀檢查、電氣性能測(cè)試、功能驗(yàn)證等。
5. 應(yīng)用場(chǎng)景
PCB電路板的防潮性能評(píng)估
繼電器、開(kāi)關(guān)、插頭插座的絕緣性能測(cè)試
戶外設(shè)備(如太陽(yáng)能板、路燈控制器)的耐候性檢測(cè)
四、高低溫循環(huán)與濕熱老化測(cè)試的結(jié)合應(yīng)用
在實(shí)際產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制中,常常會(huì)將高低溫循環(huán)與濕熱老化結(jié)合起來(lái)形成復(fù)合環(huán)境測(cè)試方案,例如:
先進(jìn)行高低溫循環(huán)測(cè)試,再做濕熱老化測(cè)試,觀察綜合應(yīng)力下的失效模式;
或者采用交變濕熱+溫度循環(huán)的方式,模擬復(fù)雜多變的真實(shí)環(huán)境。
這種組合方式能更全面地暴露產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、使用過(guò)程中的潛在問(wèn)題。
五、測(cè)試設(shè)備與儀器
進(jìn)行上述測(cè)試通常需要以下設(shè)備:
高低溫試驗(yàn)箱:具備快速升降溫能力和精確溫控;
恒溫恒濕試驗(yàn)箱:實(shí)現(xiàn)高精度溫濕度控制;
數(shù)據(jù)記錄儀:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄溫濕度及樣品參數(shù);
輔助測(cè)試工具:如萬(wàn)用表、示波器、絕緣電阻測(cè)試儀等。
六、測(cè)試前后需注意的事項(xiàng)
樣品準(zhǔn)備:
確保樣品處于正常工作狀態(tài);
記錄初始外觀、功能、電氣參數(shù)。
測(cè)試中監(jiān)控:
實(shí)時(shí)記錄溫濕度曲線;
必要時(shí)在循環(huán)轉(zhuǎn)換點(diǎn)進(jìn)行功能測(cè)試。
測(cè)試后分析:
觀察是否有開(kāi)裂、變形、銹蝕等外觀異常;
檢查電氣性能是否下降;
分析故障原因,提出改進(jìn)措施。
七、總結(jié)
高低溫循環(huán)測(cè)試和濕熱老化測(cè)試是電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性驗(yàn)證的重要手段。通過(guò)遵循 GB/T 2423 標(biāo)準(zhǔn),企業(yè)可以有效評(píng)估產(chǎn)品在極端環(huán)境下的性能表現(xiàn),提升產(chǎn)品質(zhì)量和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
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