高低溫試驗和雙 85 老化試驗的標準如下：
國家標準：GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》和 GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫》。這兩個標準規(guī)定了低溫和高溫試驗的試驗條件、試驗程序和試驗方法等3。
國際標準：IEC 60068-2-1《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗 試驗 A：低溫》和 IEC 60068-2-2《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗 試驗 B：高溫》。這兩個標準與國家標準類似，是國際上廣泛采用的高低溫試驗標準。
其他標準：如 EIA 364、MIL-STD-810F 等，也對高低溫試驗的相關(guān)內(nèi)容進行了規(guī)定。
雙 85 老化試驗標準
試驗條件：溫度 85℃，相對濕度 85% RH1。
試驗設(shè)備：通常使用恒溫恒濕試驗箱，該設(shè)備能夠精確控制溫度和濕度，確保試驗環(huán)境的穩(wěn)定性和一致性。
試驗時間：常見的測試時間為 1000 小時，有些試驗甚至會持續(xù)更長時間，如 2000 小時或更久。
國際電工委員會標準：如 IEC 61215《地面用晶體硅光伏組件 設(shè)計鑒定和定型》和 IEC 61646《薄膜光伏（PV）組件 設(shè)計鑒定和定型》中，對光伏組件的雙 85 老化試驗進行了詳細規(guī)定
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