電阻器電位器失效機理視類型不同而不同。非線形電阻器和電位器主要失效模式為開路、阻值漂移、引線機械損傷和接觸損壞;線繞電阻器和電位器主要失效模式為開路、引線機械損傷和接觸損壞。電阻失效分析主要有以下四類：

碳膜電阻器。引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線端接觸不良、膜與基體污染等。

金屬膜電阻器。電阻膜不均勻、電阻膜破裂、引線不牢、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線斷裂、電暈放電等。線繞電阻器。接觸不良、電流腐蝕、引線不牢、線材絕緣不好、焊點熔解等?？勺冸娮杵鳌＝佑|不良、焊接不良、接觸**破裂或引線脫落、雜質污染、環(huán)氧膠不好、軸傾斜等。
電阻容易產生變質和開路故障。電阻變質后往往是阻值變大的漂移。電阻一般不進行修理，而直接更換新電阻。線繞電阻當電阻絲燒斷時，某些情況下可將燒斷處理重新焊接后使用。
電阻變質多是由于散熱不良，過分潮濕或制造時產生缺陷等原因造成的，而燒壞則是因電路不正常，如短路、過載等原因所引起。電阻燒壞常見有兩種現(xiàn)象，一種是電流過大使電阻發(fā)熱引起電阻燒壞，此時電阻表面可見焦糊狀，很易發(fā)現(xiàn)。另一種情況是由于瞬間高壓加到電阻上引起電阻開路或阻值變大，這種情況，電阻表面一般沒有明顯改變，在高壓電路經常可發(fā)現(xiàn)這種故障現(xiàn)象的電阻。
可變電阻器或電位器主要有線繞和非線繞兩種。它們共同的失效模式有：參數(shù)漂移、開路、短路、接觸不良、動噪聲大，機械損傷等。但是實際數(shù)據(jù)表明：實驗室試驗與現(xiàn)場使用之間主要的失效模式差異較大，實驗室故障以參數(shù)漂移居多，而現(xiàn)場以接觸不良、開路居多。
電位器接觸不良的故障，在現(xiàn)場使用中普遍存在。如在電信設備中達9 0 % ，在電視機中約占8 7 %，故接觸不良對電位器是致命的薄弱環(huán)節(jié)。造成接觸不良的主要原因如下：接觸壓力太小、**應力松弛、滑動接點偏離軌道或導電層、機械裝配不當，又或很大的機械負荷(如碰撞、跌落等)導致接觸**變形等。導電層或接觸軌道因氧化、污染，而在接觸處形成各種不導電的膜層。導電層或電阻合金線磨損或燒毀，致使滑動點接觸不良。

電位器開路失效主要是由局部過熱或機械損傷造成的。例如，電位器的導電層或電阻合金線氧化、腐蝕、污染或者由于工藝不當(如繞線不均勻，導電膜層厚薄不均勻等)所引起的過負荷，產生局部過熱，使電位器燒壞而開路;滑動觸點表面不光滑，接觸壓力又過大，將使繞線嚴重磨損而斷開，導致開路;電位器選擇與使用不當，或電子設備的故障危及電位器，使其處于過負荷或在較大的負荷下工作。這些都將加速電位器的損傷。